MICROELECTRONICS RELIABILITY期刊：推进微电子领域的可靠性研究

MICROELECTRONICS RELIABILITY期刊：推进微电子领域的可靠性研究

MICROELECTRONICS RELIABILITY期刊致力于推动微电子领域的可靠性研究和发展。该期刊旨在为研究人员和工程师提供一个平台，分享他们在以下方面的可靠性研究成果、经验和最佳实践：

• 可靠性建模和评估* 故障分析和故障定位* 可靠性测试* 可靠性改进方法

该期刊的目标是促进可靠性工程的进步，以确保微电子设备和系统的高可靠性和长寿命。

MICROELECTRONICS RELIABILITY 期刊涵盖了各种与微电子可靠性相关的主题，包括：

• 半导体器件可靠性* 集成电路可靠性* 电子封装可靠性* 微机电系统 (MEMS) 可靠性* 汽车电子可靠性* 航空航天电子可靠性

目标受众:

• 可靠性工程师* 研究人员* 学者* 学生

期刊的影响力:

• 推动微电子领域的可靠性研究* 促进可靠性工程的进步* 提高微电子设备和系统的可靠性* 延长微电子设备和系统的使用寿命

投稿:

我们鼓励研究人员和工程师向 MICROELECTRONICS RELIABILITY 期刊投稿，分享他们在微电子可靠性方面的最新研究成果和实践经验。