翻译Another apparently unexplored parameter is how the temperature variation affects the NBTI effect in junctionless devices To analyze this issue 3D simulations were carried out with the same simulatio
另一个明显未被探索的参数是温度变化如何影响无结器件中的NBTI效应。为了分析这个问题，使用了与第二节描述的相同的仿真设置进行了3D仿真。温度范围从270到330K，针对四个VGT值进行了变化：-0.30，-0.55，-0.80和-1.05V。首先观察到的是温度变化如何影响阈值电压的退化。结果可以在图10和图11中看到。
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