C 代码示例：嵌入式系统测试框架

这段 C 代码展示了一个嵌入式系统测试框架，代码中定义了一个主函数 void main(void)，程序从这里开始执行。

1. 定义枚举类型 BLINK_tenFreq，用于表示闪烁的频率。
2. 定义静态变量 uint16 counter，用于计数，当计数器大于 1000 时，将其重置为 0。
3. 定义静态变量 uint8 TestCase，用于测试不同的情况，当测试用例大于 3 时，将其重置为 0，并暂停程序执行。
4. 调用初始化函数 GEAR_vInit() 和 time_vInit()，分别用于初始化系统和计时器。
5. 进入 死循环 while (1)，表示程序会一直运行直到被强制停止。
6. 在循环中，执行以下操作：
   • 执行测试用例函数 TEST_wrn_T1_case(TestCase)
   • 检查 ESP_LED 的状态 WRN_u8CheckLedESP_LED21()
   • 处理系统任务 GEAR_vMain()
   • 更新计时器 time_vMain()
   • 处理斜率 slope_vMain()
   • 暂停程序执行 1 秒钟 Delay(1000)

该代码展示了如何使用循环和计数器来执行测试用例，并包含了计时器、LED 状态检查、斜率处理等常见嵌入式系统功能。