光切显微镜测量表面粗糙度：rz值与ra值的优劣比较

使用光切显微镜可以测量表面粗糙度'rz'的值。具体操作步骤如下：

1. 准备光切显微镜，调节仪器，使其垂直于待测表面。

2. 在表面上选择一个长度为5mm的测量区域，将测头放置在该区域上。

3. 开始测量，仪器会自动扫描该区域，并获取相应数据。

4. 在数据处理软件中，选择测量区域，计算出其'rz'值。

5. 重复多次测量，取平均值作为最终结果。

相比之下，'ra'值不宜测量，因为它只能反映表面的平均粗糙度，而无法反映表面的峰谷高度差和表面形貌。在很多情况下，'rz'值更能反映表面的实际情况。