利用MODE双微环谐振器实现二氧化硅基底折射率高精度测量

1. 理论基础

MODE双微环谐振器是一种基于光子晶体的传感器，其原理基于微环谐振器的共振频率与外界介质的折射率有关系。当微环谐振器与外界介质的折射率发生变化时，其共振频率也会发生变化，从而可以通过测量共振频率的变化来分析外界介质的折射率。

二氧化硅基底是一种常用的光子晶体材料，其折射率可以通过测量微环谐振器的共振频率来分析。利用MODE双微环谐振器可以实现高精度的折射率测量，具有灵敏度高、抗干扰性强等优点。

2. 实验步骤

(1) 准备双微环谐振器样品：在二氧化硅基底上制备双微环谐振器。

(2) 搭建光学系统：将激光器、偏振器、光纤等设备连接好，组成光学系统。

(3) 对样品进行光谱扫描：将样品放置在光路中，利用光谱仪对双微环谐振器进行光谱扫描，记录下每个谐振峰的波长。

(4) 测量环间距离：利用显微镜等设备对双微环谐振器的环间距离进行测量，并记录下来。

(5) 计算折射率：通过理论计算或仿真模拟，根据双微环谐振器的环间距离和共振峰波长，计算出二氧化硅基底的折射率。

3. 结果分析

利用MODE双微环谐振器可以实现对二氧化硅基底的折射率进行高精度测量，其测量结果具有较高的准确性和可重复性。在实际应用中，可以利用该技术对各种介质的折射率进行分析，具有广泛的应用前景。