纳米光纤表面倏势场：场强分布、测量方法和挑战

纳米光纤表面倏势场的场强分布可以用麦克斯韦方程组和边界条件来描述。通过解析法可以得到其精确解[224]。场强在纳米光纤表面以指数形式衰减。全内反射显微镜 (TIRM) 和扫描近场光学显微镜 (SNOM) 是两种用于描述生物和光学应用中产生的倏势场的重要技术[227-229]。在传统方案中，激光在高折射率的棱镜和低折射率的空气的表面发生全反射，倏势场延伸到纳米光纤表面空气中亚波长量级的距离。这两种技术都要用到价格昂贵的显微镜。TIRM 技术通过将微球插入到倏势场中[230]或者在界面上涂敷聚合物的方式来直接测量倏势场[227]，这会对纳米光纤表面产生破坏，增加实验复杂度。SNOM 技术是在倏势场近场的位置插入一个小孔径探针，用于测量集成波导的倏势场[231]。但是，探针的插入使得探头和表面之间的倏势场的光强分布受到干扰。