双栅结构与负电容晶体管研究进展：消除电容失配与提高开态电流

在2016年，Saeidi A进行了仿真实验，证实了双栅结构能够有效地消除铁电层电容与MOS电容之间的电容失配。与此同时，Lin C I的研究表明，通过适当调整矫顽电场、铁电材料厚度和剩余极化强度，可以获得没有回滞现象且开态电流明显提高的负电容晶体管。

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