原子力显微镜：纳米尺度成像技术

原子力显微镜（AFM）是一种扫描探针显微镜，利用尖锐的探针扫描样品表面，测量探针与样品之间的力。AFM 可用于对各种样品进行成像，包括蛋白质、细胞和组织等生物样品。它还可以用来测量材料的机械性能，例如刚度和粘附性。AFM 可用于测量样品的地形，以及其电气、磁性和表面化学性质。AFM 可用于对样品进行原子级成像，为材料的结构和组成提供独特的见解。