原子力显微镜：高分辨率成像技术

原子力显微镜 (AFM) 是一种扫描探针显微镜，它利用机械力来对样品进行超高分辨率成像。AFM 使用探针尖，通常是金属或碳纳米管，与样品表面相互作用。探针尖安装在悬臂梁上，并连接到一个探测器，以测量探针尖与样品表面之间的力。当探针尖在样品上扫描时，探针尖与样品之间的力被测量，从而在原子水平上创建样品的 3D 图像。AFM 具有许多应用，包括成像生物样品、测量表面粗糙度和形状以及研究材料特性。