Verilog实现Sbox SRAM测试模块

timescale 1ns / 1ps
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////
// Company: 
// Engineer: 
// 
// Create Date: 2023/07/09 09:10:09
// Design Name: 
// Module Name: Sbox_SRAM_test
// Project Name: 
// Target Devices: 
// Tool Versions: 
// Description: 
// 
// Dependencies: 
// 
// Revision:
// Revision 0.01 - File Created
// Additional Comments:
// 
//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////////


module Sbox_SRAM_test(
    input   clk,
    input   rst_n,
    input   ena,

    // input [7:0] Q,  

    output [6:0]  A,
    output [7:0]  D,
    output [1:0] EMA,
    output [15:0] MASK,

    output CLK,
    output S,
    output S0,
    output S1,
    output CE,
    output DE,
    output WE,
    output sace
    );

    
    reg [3:0] cnt=0;
    always @(posedge clk or negedge rst_n) begin
        if(~rst_n)
            cnt <= 'h0;
        else if(ena)
            cnt <= (cnt == 14) ? 'h0 : cnt + 'b1;
    end
    assign CLK = (cnt > 0 && cnt < 4) | (cnt > 4 && cnt < 15);

    reg test_case=0;
    always @(posedge clk or negedge rst_n) begin
        if(~rst_n)
            test_case <= 0;
        else if(ena)
            test_case <= (cnt == 14)? ~test_case : test_case;
    end

    assign D = (test_case) ? 8'hff : 8'h00;

    reg [16:0] block_sel=16'h0001;
    reg [3:0] row_sel=0;

    always @(posedge clk or negedge rst_n) begin
        if(~rst_n)
            row_sel <= 0;
        else if(ena)
            row_sel <= (cnt == 14 && test_case == 1) ? row_sel + 'b1 : row_sel;
    end

    always @(posedge clk or negedge rst_n) begin
        if(~rst_n)
            block_sel <= 16'h0001;
        else if (ena && cnt == 14 && test_case == 1 && row_sel == 15)
            block_sel <= block_sel[15] ? 16'h0001 : {block_sel[14:0],1'b0}; 
    end

    wire mode;
    assign mode = cnt < 4;

    assign MASK = (mode && ena) ? block_sel : 16'h0000;
    assign A[6:3] = (mode && ena) ? row_sel : 4'h00;
    assign A[2:0] = 3'b000;
    assign EMA = 2'b10;
    assign S = 0;
    assign S0 = 1;
    assign S1 = 0;
    assign sace = 0;
    assign WE = 0;
    assign CE = ena;
    assign DE = cnt > 3 && ena;


endmodule

这段代码是一个Verilog模块，名为'Sbox_SRAM_test'，实现了一个简单的SRAM测试逻辑。

模块端口：

• 输入端口：clk（时钟信号）、rst_n（复位信号）、ena（使能信号）
• 输出端口：A（7位地址向量）、D（8位数据向量）、EMA（2位扩展地址向量）、MASK（16位掩码向量）、CLK（测试时钟）、S、S0、S1、CE（片选信号）、DE（数据使能信号）、WE（写使能信号）、sace

模块功能：

该模块通过控制地址、数据和控制信号，对SRAM进行读写测试。

代码解析：

1. 计数器部分: 一个4位计数器cnt在使能信号ena有效时递增，用于生成测试时序。
2. 测试用例控制部分: 一个单比特寄存器test_case在每个测试周期结束后翻转，用于控制写入SRAM的数据。
3. 地址选择部分: 寄存器block_sel和row_sel分别存储块地址和行地址，用于选择SRAM的存储单元。
4. 输出信号赋值部分: 根据当前测试状态和计数器值，对各个输出信号进行赋值，控制SRAM的读写操作。

总结:

'Sbox_SRAM_test'模块提供了一个简单的SRAM测试框架，通过修改测试用例和时序参数，可以实现不同的SRAM测试功能。