器件噪声性能恶化：id 减少，电压噪声功率谱密度增加

尽管 id 减少，但器件的整体噪声性能却恶化。如果将电流噪声功率 id 除以 g2m，将其参考到器件的输入栅极端口，以电压噪声功率源 v2g 的形式呈现。如图12所示，该电压的功率谱密度随着应力时间的增加而增加。

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