基于参数变化的NMOSFET寿命评估方法

基于参数变化的NMOSFET寿命评估方法

本文介绍一种基于参数变化的NMOSFET寿命评估方法，该方法参考了文献[37]中的方法。

寿命评估方法

按照文献[37]中相同的方法，可以利用参数Vth（阈值电压）和gm（跨导）随应力时间变化的数据，在不同应力水平下估计NMOSFET的寿命。

热载流子应力监测

正如引言中所解释的，基底电流Isub可以作为热载流子应力水平的度量进行监测。

设备寿命定义

设备寿命s可以定义为达到特定失效标准所需的时间，例如，Vth或gm的变化量达到一定比例。

总结

本文提出了一种利用参数Vth和gm的变化数据评估NMOSFET寿命的方法，并解释了如何利用基底电流Isub监测热载流子应力水平。该方法为NMOSFET的可靠性分析提供了一种有效手段。