从存储器地址10H开始通过左端口连续向双端口RAM中写入3个数：85H、60H、38H。在写的过程中在右端口检测写的数据是否正确。从存储器地址10H开始连续从双端口RAM的左端口和右端口同时读出存储器的内容。实验的分析和结论

实验分析：

根据实验要求，我们需要向双端口RAM中写入3个数并检测写入的数据是否正确，然后再从双端口RAM中读取存储器的内容。具体步骤如下：

1. 将左端口数据线连接到存储器地址总线，右端口数据线连接到数据总线。

2. 将写信号WR和使能信号CE分别连接到左端口和右端口的使能端。

3. 通过左端口向双端口RAM中写入85H、60H、38H，可以通过MOV指令实现：

MOV AL,85H ; 将85H写入AL寄存器 MOV DX,10H ; 将存储器地址10H写入DX寄存器 OUT DX,AL ; 将AL寄存器中的数据通过左端口写入双端口RAM

MOV AL,60H ; 将60H写入AL寄存器 INC DX ; 存储器地址加1 OUT DX,AL ; 将AL寄存器中的数据通过左端口写入双端口RAM

MOV AL,38H ; 将38H写入AL寄存器 INC DX ; 存储器地址加1 OUT DX,AL ; 将AL寄存器中的数据通过左端口写入双端口RAM

4. 在写入数据的过程中，通过右端口检测写的数据是否正确，可以通过IN指令实现：

MOV DX,10H ; 将存储器地址10H写入DX寄存器 IN AL,DX ; 从右端口读取数据到AL寄存器 CMP AL,85H ; 比较读取的数据和写入的数据是否一致 JE LABEL1 ; 如果一致，跳转到LABEL1处 ; 同样的方式检测60H和38H是否正确

LABEL1: ; 数据写入和检测完成

5. 从存储器地址10H开始，连续从双端口RAM的左端口和右端口同时读出存储器的内容，可以通过IN指令实现：

MOV DX,10H ; 将存储器地址10H写入DX寄存器 IN AL,DX ; 从左端口读取数据到AL寄存器 INC DX ; 存储器地址加1 IN BL,DX ; 从右端口读取数据到BL寄存器 ; 将AL和BL寄存器中的数据显示出来 ; 循环读取存储器中的数据，直到读取完最后一个数据

实验结论：

通过实验，我们可以验证双端口RAM的读写功能是否正常。如果写入的数据能够正确地在右端口检测出来，说明写入功能正常；如果从双端口RAM中读取的数据和写入的数据一致，说明读取功能正常。如果出现了错误，需要检查连接是否正确，或者可能是双端口RAM本身存在问题