激光抽运和探测技术(TDTR)是一种用于测量界面热阻的非接触式技术。该技术利用激光脉冲来加热样品表面,并通过测量样品表面温度的变化来计算界面热阻。

TDTR技术的原理是利用激光脉冲在纳秒时间尺度内快速加热样品表面,并通过激光脉冲后的热扩散过程来测量界面热阻。具体来说,当激光脉冲照射到样品表面时,激光能量会被吸收并转化为热能,导致样品表面温度升高。随后,激光脉冲后的热能会通过热扩散传导到样品内部和界面附近。通过测量样品表面温度的变化,可以推断出热能的传导过程,从而计算界面热阻。

TDTR技术具有许多优点,例如非接触式测量、高时间分辨率、高灵敏度和高精度等。它可以应用于各种材料和界面的热阻测量,包括金属-绝缘体界面、半导体-绝缘体界面和液体-固体界面等。

以下是几篇关于TDTR技术的参考文献:

  1. Cahill, D. G., Ford, W. K., Goodson, K. E., Mahan, G. D., Majumdar, A., Maris, H. J., ... & Zeng, G. (2003). Nanoscale thermal transport. Journal of Applied Physics, 93(2), 793-818.

  2. Koh, Y. K., Cahill, D. G., & Goodson, K. E. (2007). Thermal conductance of interfaces between highly dissimilar materials. Physical Review Letters, 98(20), 204302.

  3. Johnson, J. A., Maznev, A. A., Cuffe, J., Eliason, J. K., Wei, Z., Nelson, K. A., ... & Minnich, A. J. (2013). Direct measurement of room-temperature nondiffusive thermal transport over micron distances in a silicon membrane. Physical Review Letters, 110(2), 025901.

  4. Minnich, A. J., Johnson, J. A., Schmidt, A. J., Esfarjani, K., Dresselhaus, M. S., Chen, G., & Ren, Z. (2011). Thermal conductivity spectroscopy technique to measure phonon mean free paths. Physical Review Letters, 107(9), 095901.

这些文献提供了关于TDTR技术的详细原理、实验方法和应用案例的信息,对于深入了解和应用TDTR技术非常有帮助

激光抽运和探测技术TDTR测量界面热阻附参考文献

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