白盒测试二叉树生成MCDC法的好处

可以提高测试用例的覆盖率：二叉树生成MC/DC法可以生成更全面、更有效的测试用例，覆盖更多的代码路径和条件。

可以降低错误率：通过MC/DC方法生成的测试用例可以更好地发现潜在的缺陷和错误，从而降低错误率。

可以节省测试成本：使用MC/DC方法生成测试用例可以减少测试时间和资源，同时也可以提高测试效率和准确性，从而节省测试成本。

可以提高软件质量：使用MC/DC方法生成测试用例可以提高软件质量，减少后期维护和修复的工作量，同时也可以提高软件的可靠性和稳定性。