翻译Fig 10 Degradation of ΔVTH with the temperature variation for devices with different W and NA biased at different VGT for VDS of −10 V resultant from a stress time of 103 s
图10. ΔVTH的退化随温度变化的情况，针对不同W和NA的器件，在不同的VGT偏置下，对于由应力时间为103秒产生的VDS为-1.0V的情况。
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