翻译Fig 12 Degradation of ΔVTH with the temperature variation for devices biased at different VGT and VDS with W = 10 nm and two NA 5 × 1018 cm−3 and 1 × 1019 cm−3 resultant from a stress time of 103 s

图12显示了在不同VGT和VDS下，W = 10 nm和两个NA（5×1018 cm−3和1×1019 cm−3）的器件在应力时间为103秒后，随着温度变化而降解的ΔVTH。

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