翻译Another way to analyze this phenomenon is through the behavior of charges at the interface By observing Fig 8 which presents the space charge given by the total charge composed by electrons holes an

另一种分析这种现象的方法是通过界面处电荷的行为。通过观察图8所示的空间电荷，即由电子、空穴和陷阱组成的总电荷随N0变化的情况，可以清楚地看出，通过增加靠近界面的氧空位前体的密度，电荷数量趋向于一个恒定值。显然，对于较大的N0值，NBTI效应保持不变，因为它已经达到了界面可用电荷的极限。另一种可能性是，由于表面能量降低（表面电势增加）进入部分耗尽区域，部分陷阱根本没有被占据。[19]。