翻译Finally in Table 3 a summary of measured changesin a NMOS-LNA caused by hot-carrier stress ispresented
最后,在表格3中,列出了由热载流子应力引起的NMOS-LNA测量变化的摘要。
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最后,在表格3中,列出了由热载流子应力引起的NMOS-LNA测量变化的摘要。
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