体块GaN中双光子吸收及非线性折射率的皮秒Z扫描研究
体块GaN中双光子吸收及非线性折射率的皮秒Z扫描研究
近年来,GaN 及其相关的 III 族氮化物由于在紫外、蓝光和绿光发光二极管以及注入激光器方面的应用前景而备受关注。然而,GaN 的许多基本物理参数仍然缺乏研究。
GaN 中的非线性光学过程,例如双光子吸收 (TPA),会导致基于氮化物的光电子器件的光功率限制和光损伤。这些过程也可以应用于许多领域,例如光限幅器、光子开关和用于超快激光脉冲表征的非线性自相关系统。
迄今为止,在所有三阶光学非线性中,研究者最关注的是确定 GaN 中的 TPA 系数 b。该系数已通过 TPA 诱导的瞬态光电流、非线性电导率或光透射率自相关以及 Z 扫描技术进行了实验测定。测量得到的 b 值范围从 0.00635 cm/GW (参考文献 2) 到 17.5 cm/GW (参考文献 3) 不等。
需要指出的是,迄今为止,所有关于 GaN 光学非线性的实验研究都是在生长在蓝宝石(以其强光学非线性而闻名)衬底上的几微米厚的外延层上进行的,这严重限制了光学相互作用长度和测量的精度。此外,对所得数据的分析表明,当使用高脉冲重复率或相对较长的纳秒激光脉冲进行测量时,总是会得到较大的 b 值,这引发了关于热效应在这些实验中可能起到的作用的疑问。
在本研究中,我们描述了对体块 GaN 中非线性光学响应的测量,这些测量是通过使用低重复率皮秒激光脉冲和静态 Z 扫描技术进行的。我们从这些测量中评估了 TPA 系数 b 以及分别代表由 GaN 中的束缚和自由载流子引起的非线性折射率的参数 n2 和 sr,并进行了讨论。
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