LAKESHORE的半导体特性分析仪以及配套的探针台对器件进行测试的测试步骤

准备测试样品：将待测试芯片或器件放置在探针台上，并确保其正确接线。

调整测试参数：根据测试需要，调整半导体特性分析仪的测试参数，例如电流范围、电压范围、采样速率等。

开始测试：启动测试程序，让半导体特性分析仪对待测试器件进行测试。根据测试结果，可以分析器件的电性能、特性曲线等信息。

记录测试结果：将测试结果记录在测试报告中，包括器件的电性能参数、特性曲线、测试条件等。

分析测试结果：根据测试结果进行数据分析，评估器件的质量和性能，并确定是否符合设计要求。

维护设备：测试完成后，对半导体特性分析仪和探针台进行维护和清洁，以确保设备的稳定性和可靠性。