Cu阳极X射线衍射：arFe多晶试样谱线标定

Cu阳极X射线衍射：arFe多晶试样谱线标定

为确定Cu阳极和Co阳极哪个更适合对arFe多晶试样进行X射线摄照，需要考虑X射线管的工作电压和所需的X射线能量范围。由于Cu阳极工作电压较低，适合产生观察较高阶次衍射谱线所需的中等和较高能量X射线，因此更适用于arFe多晶试样。

arFe多晶试样(110)和(200)谱线确定

已知arFe晶胞参数a=0.2866nm，可计算出(110)和(200)面的间距：

• d(110) = a / √(1² + 1² + 0²)* d(200) = a / √(2² + 0² + 0²)

(110)谱线标定

利用布拉格公式计算(110)谱线的衍射角度θ：

nλ = 2dsinθ

其中：

• n为衍射级别* λ为X射线波长* d为晶面间距

通过标定实验测量(110)谱线的衍射角度θ，结合布拉格公式反推出对应的d值，即可确定(110)谱线。

(200)谱线标定

(200)谱线可采用与(110)谱线相同的标定方法。

注意：

• 标定衍射谱线通常需要比对已知晶体的标准衍射图谱，以确定谱线的指数。

结论

使用Cu阳极更适合对arFe多晶试样进行X射线摄照，预期可在衍射图像中观察到(110)和(200)谱线。通过标定实验，可以确定这些谱线的衍射角度和对应的晶面间距。