这篇学术摘要讨论了基于Grekhov教授和其他人发明的电离波理论的DSRD器件。该器件采用多层pn结构,在高电压下实现快速关断。复杂的pn结构设计对于确保高电压半导体开关性能至关重要。器件的基区掺杂浓度和厚度显著影响其工作性能。本章旨在利用半导体器件模拟软件和基于第二章介绍的SiC DSRD器件的工作机制和电路工作机制的电路模拟软件来模拟和分析DSRD器件的结构。模拟分析主要集中在器件的击穿特性和脉冲特性上。在此过程中,设计和优化了器件结构,以实现SiC DSRD器件大于1700V的耐压,并确定了器件的结构参数。此外,还构建了一个固有脉冲电路和一个感性负载反恢复测试电路,以测试器件的动态参数。摘要经过重新编写,更加简洁、逻辑和结构清晰。

This academic abstract discusses the DSRD device which is based on the ionization wave theory invented by Professor Grekhov and others The device uses a multi-layered pn structure to achieve fast turn

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