透射电子显微镜

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）是一种高分辨率的电子显微镜，它利用电子束穿透样品并通过样品的相互作用和散射来形成图像。TEM可以获得非常高的分辨率，可以观察到纳米尺度的结构和物质的原子结构。TEM广泛应用于材料科学、生物学、化学、地质学等领域，可以用来研究材料的结构、组成、形貌、晶体结构等。