根据题目的设定,我们可以使用高斯定律来求解空间处处的电位移矢量D。首先,我们需要确定充电密度ρ。

由于内导体是一个长直电缆,根据高斯定律,在内导体表面内部的电场是零。因此,内导体内的电荷密度ρ为零。

在内导体表面到外导体表面之间的区域内,由于只存在内导体的面电荷密度k/ρ,我们可以利用高斯定律得到:

∮S D·dS = Q_enclosed / ε₀,

其中,∮S表示对闭合曲面S的面积分,D代表电位移矢量,dS代表曲面上的微小面积元素,Q_enclosed表示被闭合曲面所围成的区域内的总电荷量,ε₀代表真空介电常数。

对于内导体到外导体之间的区域,闭合曲面选择一个半径为r的圆柱面,圆柱面的高度为L(L足够大,以包括整个电缆),根据图像的对称性,由于电场朝向圆柱轴线的方向是相等的,只需要计算圆柱面上和底面的电场即可。

闭合曲面上的电荷量可以表示为:

Q_enclosed = 2πaL(k/ρ),

其中,2πaL表示内导体的表面积。由于内导体内部没有电荷,因此我们可以忽略内导体内部的电荷。

因此,高斯定律可以简化为:

2πaL(D_a - D_b) = (2πaL)(k/ε₀),

其中,D_a和D_b分别代表圆柱面的内侧和外侧表面的电位移矢量。

化简上式,我们可以得出空间处处的电位移矢量D为:

D = k/ε₀,

这意味着在内导体到外导体之间的区域内,电位移矢量D的大小是一个常数,与位置无关。

长直间轴电缆外裹薄导体层电位移矢量计算

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