NEU-CLS dataset contains six types of defects in total ie scratchSc patch Pa pitted surface Ps inclusion In crazing Cr and rolled-in scale Rs Each defect type has 300 images 润色

NEU-CLS数据集总共包含六种缺陷类型，分别为划痕（Sc）、补丁（Pa）、坑洼表面（Ps）、夹杂物（In）、龟裂（Cr）和卷入氧化物（Rs）。每种缺陷类型有300张图像。

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