透射电镜发展史：从20年代到原子分辨率

透射电镜（Transmission electron microscope，TEM）是一种利用电子束通过物质来照射样品的显微镜，其分辨率比光学显微镜高出几个数量级。透射电镜的发展历程可以追溯到20世纪20年代初期。

1924年，德国物理学家卡尔·鲁特发明了一种电子显微镜，但是它只能观察到物质表面的形态，无法观察到其内部结构。

1931年，德国物理学家恩斯特·鲍尔和马克斯·范·克里斯特发明了第一台透射电镜，可以观察到物质的内部结构。这台电子显微镜的分辨率为2.5埃，可以观察到原子的空间排列。

1938年，英国物理学家詹姆斯·查德威克发明了一种新型的透射电镜，分辨率达到了1.5埃，可以观察到更细微的结构。这台电子显微镜的核心部分是一个电子衍射仪，可以通过对电子的衍射模式进行分析，确定物质的结构。

1942年，美国物理学家阿尔伯特·霍夫曼发明了一种新型的透射电镜，其分辨率达到了0.4埃。这台电子显微镜采用了一种新的电子透镜系统，可以控制电子束的聚焦和偏转，从而获得更高的分辨率。

20世纪60年代，透射电镜的分辨率已经达到了0.1埃，可以观察到原子的晶格结构。随着电子显微镜技术的不断发展，透射电镜已经成为了研究物质结构的重要工具，广泛应用于材料科学、生物学、物理学等领域。