1从存储器地址10H开始通过左端口连续向双端口RAM中写入3个数：85H、60H、38H。在写的过程中在右端口检测写的数据是否正确。2从存储器地址10H开始连续从双端口RAM的左端口和右端口同时读出存储器的内容。实验的分析和结论

实验一： 根据题目要求，从存储器地址10H开始，通过左端口连续向双端口RAM中写入3个数：85H、60H、38H。在写的过程中，在右端口检测写的数据是否正确。 首先，我们需要了解一下双端口RAM的原理。双端口RAM是指有两个独立的端口，左端口用于CPU读写，右端口用于外设读写。当CPU向左端口写入数据时，数据会被同时写入到右端口，当外设向右端口写入数据时，数据会被同时写入到左端口。因此，我们可以通过在写入数据的同时，在右端口检测数据是否正确来验证写入的数据是否正确。

接下来，我们可以根据题目要求，编写如下的程序：

MOV AL,85H ;将要写入的第一个数据85H存入寄存器AL MOV CX,3 ;将要写入的数据个数3存入寄存器CX MOV SI,10H ;将要写入的数据的起始地址10H存入寄存器SI LOOP1: ;循环开始 MOV [SI],AL ;将AL中的数据写入存储器地址SI指向的位置 IN AL,DX ;从右端口读取数据到寄存器AL中 CMP AL,[SI] ;将AL中的数据和存储器中的数据进行比较 JNE ERROR ;如果不相等，跳转到ERROR标签 INC AL ;将AL中的数据加1 INC SI ;将SI中的地址加1 LOOP LOOP1 ;循环结束，继续写入下一个数据并检测是否正确 ERROR: ;如果写入的数据不正确，跳转到此处 HLT ;程序结束

在程序中，我们首先将要写入的第一个数据85H存入寄存器AL中，将要写入的数据个数3存入寄存器CX中，将要写入的数据的起始地址10H存入寄存器SI中。然后进入循环，每次将AL中的数据写入存储器地址SI指向的位置，从右端口读取数据到寄存器AL中，并将AL中的数据和存储器中的数据进行比较，如果不相等，跳转到ERROR标签，如果相等，将AL中的数据加1，将SI中的地址加1，继续写入下一个数据并检测是否正确。如果写入的数据不正确，跳转到ERROR标签，程序结束。

实验二： 根据题目要求，从存储器地址10H开始，连续从双端口RAM的左端口和右端口同时读出存储器的内容。 我们可以编写如下的程序：

MOV CX,3 ;将要读取的数据个数3存入寄存器CX MOV SI,10H ;将要读取的数据的起始地址10H存入寄存器SI LOOP2: ;循环开始 MOV AL,[SI] ;将存储器地址SI指向的数据读取到寄存器AL中 OUT DX,AL ;将AL中的数据写入右端口 IN AL,DX ;从右端口读取数据到寄存器AL中 MOV [SI],AL ;将AL中的数据写入存储器地址SI指向的位置 INC SI ;将SI中的地址加1 LOOP LOOP2 ;循环结束，继续读取下一个数据 HLT ;程序结束

在程序中，我们首先将要读取的数据个数3存入寄存器CX中，将要读取的数据的起始地址10H存入寄存器SI中。然后进入循环，每次将存储器地址SI指向的数据读取到寄存器AL中，将AL中的数据写入右端口，从右端口读取数据到寄存器AL中，并将AL中的数据写入存储器地址SI指向的位置，将SI中的地址加1，继续读取下一个数据。程序结束。

综上所述，通过以上实验，我们可以验证双端口RAM的工作原理，以及如何使用双端口RAM进行数据的读写