翻译in which ui is the minimum energy that a hot electronmust have in order to cause impact ionization with reported values in literature between 112 eV and 3 eV18 q is the electron charge k is the mean

其中，ui是热电子引起冲击电离所必须具备的最小能量，文献报道的值在1.12 eV和3 eV之间[18]，q是电子电荷，k是热电子的平均自由程，与ui有关系，按照k = ui/(1.6 · 106)计算，其中k的单位为米，ui的单位为电子伏特[18]，Em是通道中最大的电场，出现在通道的漏极端。由于Isub和热载流子损伤界面的生成速率都随着Ids和通道电场的变化而变化，因此可以将Isub用作衡量器件中热载流子损伤生成速率的指标。