结构光相位法：高精度、非接触式3D测量方案

结构光相位法是一种先进的三维测量技术，它利用投影仪投射结构光图案到被测量物体上，并通过相机采集物体表面反射的光线，根据光线的相位变化来重建物体的三维形状。该方法具有以下优势：

1. 高精度：结构光相位法能够实现亚微米级的测量精度。

2. 非接触：结构光相位法不需要与被测量物体接触，可以保护被测量物体的完整性。

3. 快速：结构光相位法可以在短时间内完成对被测量物体的三维测量，提高了测量效率。

4. 自动化：结构光相位法可以与自动化系统相结合，实现对大量复杂工件的快速测量，提高了生产效率。

5. 高度适应性：结构光相位法可以适用于各种不同形状、大小和材质的被测量物体，具有很高的适应性。

结构光相位法在工业制造、科研、医疗等领域有着广泛的应用。例如，它可以用于精密零件的尺寸测量、产品缺陷检测、文物数字化、人体表面扫描等。